Mesure-rugosité-optique-Stradex-a



Matériau:métaux, semi-conducteurs, silicum, GaAs, plastiques, cé
Application:Mesures 3D, topographie de surface, rugosité de la surface
Marque:Sentronics Metrology

Stradex a pour la mesure de la rugosité / 3D Micro-Topographie

Le capteur Stradex a. Mesure de la rugosité optiques et donc sans contact, sur des objets.

Le rugosité, bien en 1D, ainsi en 2D sont déterminés.

Les données sont affichées sous forme de graphique linéaire ou graphique de surface. Ce capteur compact est utilisé souvent pour la mesure en continu de pièces sur un convoyeur.

La flexibilité de la norme de données permet l’évaluation des résultats de mesure, à la fois avec le logiciel convivial StratoSpect, comme avec un logiciel tiers.

métrologie:

  • 3D Micro-Topographie

  • Rugosités 1D dans la gamme sub-nm

  • Rugosités 2D (facteur de charge)

Caractéristiques:

  • Mesure de la rugosité dans la gamme sub-nm

  • Temps d'acquisition: jusqu'à 4 s; 1 s (dimension réduite)

  • Distance opérationelle 3.5 mm

  • Plage AF: maximum 150 µm

  • Zone de mesure: 400 × 400 um ²

  • Convivial TopoSpect ou logiciel Topoline

  • En option: Intégrable dans le système d'automatisation externe ou CMM



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Groupe de produits:Contrôle en ligne
Application:Épaisseur-couche & rugosité
Produit:Mesure-rugosité-optique-Stradex-a
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